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SAXON顆粒分析儀的主要技術參數介紹
更新時間:2021-04-13 點擊次數:1318
顆粒物分析儀SMG200M可測量顆粒物質量濃度最高達250mg/m3,粒徑范圍0.04μm~10μm。儀器堅固耐用,適合移動使用,可承受樣氣溫度高達500攝氏度(探頭位置),并在露點溫度達到80攝氏度做到*準測量,測量數據可在觸摸屏上顯示圖形和數值,可本地存儲或通過U盤傳輸,方便進一步數據分析。儀器操作簡便,極低維護,有內部記錄功能,是一款非常好用的顆粒物分析儀。
SAXON顆粒分析儀的主要技術參數:
測量原理:激光散射法
顆粒尺寸范圍:40nm~>10μm
測量量程:0~250mg/m3
分辨率:10 μg/m3 ± 1 Digit
重復性:≤±3%
精度:全量程的±5%
廢氣溫度:<500℃
露點:≤80℃
流量:2.88 升/分鐘(±5%,電子控制)
取樣探頭:隨儀器配置,帶2米長加熱管線,400mm柔性探頭
測量持續時間:1分鐘~30分鐘,可設置
響應時間:T90<15秒(使用3米管線時)
加熱時間:<10分鐘
調零:15秒
數據通訊:RS232、USB及無線藍牙
顯示器:彩色觸摸屏
語言:英文/德文
環境溫度:5℃~40℃
相對濕度:最大95%,非冷凝
電源:230VAC/50Hz,功耗最大250VA(帶探頭)
外殼材質:防護等級IP40,鋁合金,帶防震橡膠護邊
尺寸:約寬210mm× 高275mm×深375mm
重量:約7.5Kg
隨機資料:英文操作手冊